モルフォロジー処理によるインパルス性雑音検出法
伊藤 好矩, 佐藤 隆宣 , 山下 哲孝, 呂 建明, 関屋 大雄, 谷萩 隆嗣
第18回　回路とシステム軽井沢ワークショップ, pp.123-128, Apr., 2005. [pdf document]

<Abstract>

本研究では, モルフォロジー処理を用いたインパルス性雑音検出法を提案する. 提案手法は, 絶対偏差画像に対しモルフォロジー処理の収縮した後に膨張を行う処理であるオープニングを適用することでエッジ成分を抽出する. 抽出したエッジ成分と絶対偏差画像との差をとり, 閾値処理を施すことにより雑音フラグ画像を作成する. 収縮, 膨張には双対性がありエッジシフトは生じないため, エッジ抽出性能が向上し, 差分画像における誤差が小さくなるため, 雑音検出精度が向上する. シミュレーションにより提案する検出器の有効性を確認する.